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X선 회절 분석장치
X-Ray Diffraction Sysem
- 모 델 명
- X’PERT 1 X-RAY
- 제조국가
- 네덜란드 (1994)
- 규 격
- - 측정범위: 5~154℃
- Maximum load: 3KW(KV: 10~60, mA: 10~60)
- Laue 사진 촬영기 - 용 도
- - 분말이나 고체 재료의 결정상 분석
- 단결정 시료의 결정방위 및 대칭요소 분석
- 나노입자의 입도분석
